1、德國WERTH工業(yè)CT測量機設備原理及設備用途
在真空環(huán)境的X射線管內(nèi)，其陰極鎢絲受熱釋放大量電子，逃逸電子通過加速電場后快速轟擊陽極靶，從而產(chǎn)生大量X射線能譜和熱量。X射線穿透工件時從而導致能量的衰減，被測工件中的高密度物質吸收大量的X射線能譜，而低密度的物質則直接被穿透。X射線接收器（探測板）根據(jù)X射線能譜的衰減從而形成相關的2D圖像。軟件根據(jù)工件在360°旋轉過程中采取的一系列2D圖像，經(jīng)過特殊算法重構出其實際體素。
一臺設備實現(xiàn)兩種技術，三坐標測量技術及X射線斷層掃描技術，通過三坐標測量技術保證各軸向穩(wěn)定的精度，通過X射線技術實現(xiàn)產(chǎn)品內(nèi)外部掃描，既能實現(xiàn)測量的高精度，更能保證測量的全面性。
通過CT掃描、圖形處理成像生成3D重建模型，實現(xiàn)產(chǎn)品360°范圍無損可視化全尺寸及形位公差等準確測量，同時可進行內(nèi)部缺陷檢測、裝配內(nèi)部結構評估、材料結構分析、內(nèi)部微觀尺寸測量、編程自動尋邊測量等，對塑料、鋼材料、鋁材料、非金屬材料等進行檢測，可實現(xiàn)對點、線、圓、圓柱、圓錐等基本元素的測量及構建，支持垂直度、平行度、位置度等形位公差評估、3D最佳擬合及公差擬合軟件進行輪廓匹配分析和三維CAD工件公差比對等。
2、德國WERTH工業(yè)CT測量機主要技術指標
2.1、適用范圍：
在無損測量產(chǎn)品或工件的條件下，適于對金屬、非金屬、復合材料零部件實現(xiàn)內(nèi)外部尺寸高精密測量及缺陷檢測分析，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式直觀地顯示被檢測物體內(nèi)部結構、裝配組成以及尺寸和缺陷情況，通過測量軟件在產(chǎn)品或工件上建立測量坐標系統(tǒng)，從而確定被測產(chǎn)品工件內(nèi)部缺陷的尺寸大小，實現(xiàn)復雜零部件內(nèi)外尺寸高精度測量和缺陷分析。
2.2、X射線源：
2.2.1、X射線管最大電壓：300KV；最大功率：80W
2.2.2、X射線管燈絲工作時間：1500h-2000h，更換時可即插即用。
2.3、設備精度：
2.3.1、分辨率：3μm
2.3.2、測量精度：（3.5+L/100）μm，L為待測尺寸數(shù)值，單位mm，測量精度符合國際通用參考標準VDI2630；
2.4、探測器
2.4.1、有效面積：400mm×400mm；
2.4.2、像素尺寸：200μm×200μm；
2.4.3、射線源到探測器距離：1250mm；
2.4.4、溫度穩(wěn)定性：設備內(nèi)部配置控溫系統(tǒng)，能夠實時進行溫度補償；
2.4.5、抗輻射能力：≥300kV。
2.5、檢測范圍
2.5.1、最大樣品直徑：470mm；
2.5.2、最大樣品高度：667mm；
2.5.3、最大樣品重量：40kg；
2.6、機械硬件移動
2.6.1、機械系統(tǒng)移動精度：MPE-E：（4.5+L/75）μm，L為待測尺寸數(shù)值，單位mm，
2.6.2、機械系統(tǒng)系統(tǒng)行程：X±400，Y：400，Z：800；
2.7、安全防護系統(tǒng)
2.7.1、采用鉛鋼防護，全封閉安全屏蔽室；
2.7.2、提供觀察窗口
2.7.3、安全防護屏蔽室：設備具有自鎖功能，只有在關閉所有外壁，X射線才能開啟，一旦開啟任何一扇外壁，X射線將自動關閉，并有開關警示燈顯示，滿足所有相關安全保護功能；
2.7.4、X射線警告燈，當X射線開啟時，自動亮燈，起到警示作用，當出現(xiàn)異常情況時，具有報警功能；
2.7.5、X射線漏射率 lt;1uSv/h，符合國家和國際標準共同標準；
2.8、掃描重構軟件功能
2.8.1、三維CT采集和重建功能，軟件投影采集和數(shù)據(jù)重建可同時進行；
2.8.2、支持程序啟動自校功能；
2.8.3、探測器具有校準功能；
2.8.4、自動高分辨率圖像優(yōu)化功能，通過預先對多個位置進行圖像采集，計算掃描過程中由于溫度漂移導致的形狀誤差，提高圖像質量；
2.9、分析軟件功能
2.9.1、高精度直接測量系統(tǒng)，要求可以基本尺寸測量、形位尺寸測量；
2.9.2、掃描數(shù)據(jù)與標準模型進行比對分析功能；
2.9.3、高分辨率擴展掃描CT功能，可實現(xiàn)對掃描數(shù)據(jù)的分析處理，包括圖像可視化、編輯處理、區(qū)域分割提取，支持多視角模式顯示，支持透視、表面模式、體渲染模式等，支持圖像優(yōu)化處理；
2.9.4、具備重構、測量、缺陷檢測分析等；
2.9.5、具備點、線、面、圓柱、圓錐等測量創(chuàng)建及構建（提供相應技術證明文件）、具備垂直度、平行度、位置度等形位公差評價；
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